[[분류:통신 기술]] [목차] == 개요 == Joint Test Action Group 그룹이 만들고 이 그룹의 이름을 따서 명명된 통신규격. 전자보드 제조과정에 있어서 기존의 테스트과정의 단점을 보완하고 신뢰성있는 테스트 규격을 만들기 위해 제조된 규격. 현대에 와서는 많은 [[마이크로컨트롤러]]와 디지털 소자들에 프로그래밍,디버깅용으로 사용되며 이를 위한 장비의 이름으로도 사용된다. == 특징 == 기본적으로 직렬 통신 방식으로 구성되어 있으며 기본구성은 다음과 같은 5핀 구성이다 * TDI - 테스트 데이터 입력 * TDO - 테스트 데이터 출력 * TCK - 테스트 클럭 * TMS - 테스트 모드 * TRST - 리셋라인. 구성에 따라서 입력과 출력을 한 라인에서 동시에 하고 클럭라인만 남겨놔서 2선식으로도 구동가능하게 만들어 놓은 경우도 있다. 이경우 cJTAG(컴팩트 JTAG)라고 부르며 대부분의 마이크로컨트롤러에서 많이 쓰인다. == 업체별 구성 == 통신 규격만 정해져 있고 딱히 포트 구성에 대한 부분은 따로 정해진바가 없는 관계로 이를 사용하는 업체들마다 포트 구성이 다 다르다. 예를 들면. * ARM 계열 프로세서 - 5핀 2열(1.27mm/50mill 피치), 7핀 2열(2.54mm/100mill 피치), 10핀 2열(2.54mm/100mill 피치). 코어텍스 M,A계열을 가리지 않고 전부 사용된다. * ST - 7핀 2열(2.54mm/100mill 피치). * Microchip PIC - 8핀 1열(2.54mm/100mill 피치). * Atmel AVR - 5핀 2열(2.54mm/100mill 피치). * 인텔 FPGA - 5핀 2열(2.54mm/100mill 피치). * 자일링스 FPGA - 7핀 2열(2.54mm/100mill 피치).